中关村元坤智造工厂,注册立享优惠!

IC产品 MULTICOMP - P100-A-250-G - 测试探针 凹头 - 北京首天伟业科技有限公司

MULTICOMP - P100-A-250-G - 测试探针 凹头

MULTICOMP - P100-A-250-G - 测试探针 凹头
制造商:MULTICOMP
库存编号:
制造商编号:P100-A-250-G
库存状态:上海 0 , 新加坡70, 英国1767
包装规格:1
最小订单量:10
多重订单量:10
单位价格:特价出售
价格:
订购
描述信息:
  • 连接器类型:Spring Probe
  • 系列:P100
  • 接触材料:Beryllium Copper
  • 额定电流:3A
  • 接触镀层:Gold
  • 连接器颜色:Gold
  • 触点镀层:Gold
  • 触点材料:Beryllium Copper
  • 连接器类型:Probe
  • 颜色:Gold
产品属性:

重量(公斤):0.0001
原产地:
最近制造加工所发生的国家:

描述信息:
  • 连接器类型:Spring Probe
  • 系列:P100
  • 接触材料:Beryllium Copper
  • 额定电流:3A
  • 接触镀层:Gold
  • 连接器颜色:Gold
  • 触点镀层:Gold
  • 触点材料:Beryllium Copper
  • 连接器类型:Probe
  • 颜色:Gold